Wzorcowanie aparatury pomiarowej

wzorcowanie aparatury pomiarowejKsiążka Wzorcowanie aparatury pomiarowej autorstwa Janusza Piotrkowskiego i Krystyny Kostyrko porusza wiele istotnych współcześnie tematów. Metrologia fizyczna podlega bowiem aktualizacji tak samo jak każda inna dziedzina nauki. Zaletą tej książki jest fakt, iż jest ona nowa i została wydana w roku 2012, dlatego dane w niej zawarte są aktualne i świeże.

Aparatura pomiarowa we współczesnym czasie staje się coraz bardziej czuła. Wymaga to ujednolicenia jednostek, wprowadzenia procedur zapewniających jednolitość miar, podania wzorców pomiarowych. Przedstawione są tu aspekty niepewności wyników pomiarów oraz procedury wyznaczania tej niepewności. W książce poruszone są również zasady tworzenia schematów sprawozdań oraz narzędzi pomiarowych. Ważne są takie tematy jak komputeryzacja pomiarów, nowoczesne metody ich dokonywania.

Książka jest nowszym wydaniem poprzedniej publikacji, uzupełnioną o nowe badania. Uwzględniono tu na przykład takie tematy jak aktualne badania na temat kwantowego układu jednostek SI. Publikacja pozwala na prześledzenie kierunku realizacji nowych etalonów. Ważnym elementem tego wydania jest również poruszenie zagadnień prawnych, które są niezbędne w przypadku laboratoriów współpracujących międzynarodowo lub na rzecz państwa.

Warto wspomnieć, że nowe pomiary wymuszają także setki nowych uzgodnień prawnych, które warto sobie przytoczyć. Książka powstała z myślą o studentach politechnik, a także dla inżynierów oraz pracowników naukowych, których zadaniem jest praca nad aparaturą pomiarową.

Możliwość komentowania jest wyłączona.